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IEEE Design & Test
ISSN：2168-2356

IEEE Design & Test

IEEE DES TEST
学科领域：计算机科学
是否预警：不在预警名单内
是否OA：否
录用周期：-
新锐分区：计算机科学4区
年发文量：46
影响因子：1.9
JCR分区：Q3
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基本信息

IEEE 设计 与 测试 提供 原创 作品 ， 描述 用于 设计 和 测试 微 电子 系统 的 模型 、 方法 和 工具 ， 从 器件 和 电路 到 完整 的 片 上 系统 和 嵌入 式 软件 。该 杂志 关注 当前 和 近期 的 实践 ， 包括 教程 、 指导 文章 和 现实 世界 的 案例 研究 。该 杂志 通过 专栏 、 访谈 和 圆桌 讨论 ， 不仅 向 读者 介绍 重要 的 技术 进步 ， 还 介绍 技术 领导 者 的 观点 。主题 包括 半 导体 IC 设计 、 半 导体 知识 产权 模块 、 设计 、 验证 和 测试 技术 、 制造 和 产量 设计 、 嵌入 式 软件 和 系统 、 低 功耗 和 节能 设计 、 电子 设计 自动 化 工具 、 实用 技术 和 标准 。
2168-2356SCIE/Scopus收录
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SJR：0.357
SNIP：0.807
学科类别分区排名百分位
大类：Engineering
小类：Electrical and Electronic Engineering
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大类：Engineering
小类：Hardware and Architecture
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大类：Engineering
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